MERLIN™
Analytische Energie für die Vor-Nanometer Welt
- Nano Analytics
- Gesamtinformationen
- Mühelosigkeit des Gebrauches
- Zukunft zugesichert
MERLIN™ - Analyse und hohe Entschließung in einem
Das MERLIN FE-SEM überwindt den Konflikt zwischen Bildentschließung und analytischer Fähigkeit. Der Kern von MERLIN ist die erhöhte Spalte der ZWILLINGE ...
SIGMA - vorgerückte analytische Mikroskopie - jetzt vorhanden mit VP Technologie
Das SIGMA, GEMINI® Technologie kennzeichnend liefert hervorragende Darstellung und analytische Resultate von einem Feldemissionmikroskop.
Das SIGMA ist jetzt mit variabler Drucktechnologie (VP) für außergewöhnliche Darstellung und Analyse des nicht leitfähigen Exemplars vorhanden. Es ist mit einem Reichtum ...
Die Antwort zu den modernen nano Wissenschaftsherausforderungen ist die einzigartige GEMINI® Feldemission SEM-Spalte, eine hoch entwickelte Lösung, die weltweit von den Mikroskopierern als der Führer erkannt wird. Das neue SUPRA™ die Reihe, basiert auf der 3. Spalte des Erzeugung GEMINI®, bietet eine komplette Strecke der ultra hohen Entschließung FESEMs Modelle an, um alle Anwendungsbereiche ...
Wir sind stolz, unsere NEUE vielseitig begabte Lösung zu den analytischen Zwecken im Verbindung mit Ultra-Hoch-Entschließung und reichlichen Signal-Vorwählerfähigkeiten darzustellen.
Revolutionäre automatische Mittellinie-aligment fucntions (Selbstlichtstrahl-Einstellung, axiales Selbstaligment, ect.)
Sogar bessere Entschließung von 10nm an 3kV
Realzeit-, Doppelbildanzeige und Signalmischen
Mittellinie 5 motorisierte Stadium mit hoher Neigung (- ~ 20 +90 Grad.) eine hohe Probe bis zu 80mm hohem anwendbarem (Art - 2)
Analytischer Exemplarraum mit optimaler Geometrie ...
Das S-3700N ist ein analytischer variabler Druck SEM des großen Raumes und bietet die außerordentliche analytische vielseitige Verwendbarkeit an, die mit Hochleistungs-Darstellung kombiniert wird. Die 5 die computergesteuerte, welche Mittellinie Stadium mit -20° zur +90° Neigung motorisierte, können Exemplare bis 300 Millimeter im Durchmesser und bis 110 Millimeter behandeln hoch. Der große Raum hat ...
Das JSM-6701F ist ein Feldemission-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) eine kalte Kathodenfeldemissiongewehr, ultra ein hohes Vakuum und verfeinerten Digitaltechniken für hohe Entschließungqualitätsdarstellung der Mikrostrukturen enthalten. Eine konische F.E.-Gewehr und ein Halb-inobjektiv objektives Objektiv kennzeichnend, ist das System zur hohen Entschließungdarstellung sowie Qualitätsrealzeitbildanzeige ...
Das JSM-7500F ist eine analytische Feld-Emission SEM, die erhöhte Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Energieeffizienz kennzeichnet. Das JSM-7500F bietet die höchste Entschließung am niedrigsten KV aller möglicher SEM an, die vorhanden sind und erzielt eine Entschließung von 1.4 Nanometer bei 1 KV. Das JSM-7500F liefert Inobjektiv Leistung (1.0nm an 15kV) aber kann Proben bis zu 200mm in der Höhe ...
Das JSM-7001F, thermische Feld-Emission SEM, ist die ideale Plattform für das Verlangen der analytischen Anwendungen sowie die, die hohe Entschließung und Benutzerfreundlichkeit erfordern. Das JSM-7001F hat ein großes, eine Mittellinie 5, völlig eucentric, motorisiertes, automatisiertes ein Exemplarstadium, ein Eintätigkeit Exemplaraustauschluftventil, kleinen Prüfspitzendurchmesser sogar an der großen ...
Apollo 300
Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.
Eich-masse 500 Modelle
X500S Wolframkathode
X500FE Schottky Feld-Emission
Modell
X500S X500FE
Kathodenwahlen
Wolfram-(W) Schottky F.E.
SEI Entschließung an
Hohes Vakuum.
<3.5nm @ 30kV <1.5nm @ 25kV
Beschleunigende Spannung
40kV Eich-mass
50kV Wahl 25kV Eich-mass
Wahl 30kV
