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Räumliche Auflösung: 0,3 nm - 1,5 nm
Gewicht: 500 g
... Probenvorbereitung für TEM- und STEM-Bildgebung oder Atomsondentomographie. Einfache Bedienung mit fortschrittlicher Automatisierung. Geeignet für hochwertige 3D-Charakterisierung des Untergrunds. FIB-Probenvorbereitung Das neue Thermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 2, 10, 3 nm
... Tisch-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone für hochwertige Aufnahmen in verschiedenen Disziplinen. Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM bringt das Feldemissions-SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,6, 1,2, 0,7, 1 nm
... Plasma-fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop für die TEM-Probenpräparation, einschließlich 3D-Charakterisierung, Querschnitt und Mikrobearbeitung. Das Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines ...
ZEISS Métrologie industrielle
In Umgebungen für die industrielle Qualitätssicherung oder Forschung ist das Rasterelektronenmikroskop die beste Wahl für Metallografie- und Fehleranalyse. Denn es bietet Imaging in Hochauflösung und eine hohe räumliche Auflösung der ...
... DIGITALES MIKROSKOP FÜR AUTOMATISCHE BRINELLMESSUNGEN ISO 6506 - ASTM E10 Elektronisches Mikroskop für die automatische Messung von Brinell-Eindrücken mit einer Kugel von Ø 2,5 oder 5 oder 10 mm -benutzerfreundlich und kompakt -Auto-Lichteinstellung -Genauigkeit ...
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 3, 4, 8 nm
Gewicht: 480 kg
... Das CIQTEK SEM3200 ist ein leistungsstarkes Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop. Es hat eine hervorragende Bildqualität, Niedervakuum-Modus-Kompatibilität, hochauflösende Bilder in verschiedenen Bereichen der Ansicht. Die Tiefenschärfe ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,5, 0,8 nm
Gewicht: 950 kg
... CIQTEK SEM5000 ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...
CIQTEK Co., Ltd.
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign ...
CIQTEK Co., Ltd.
Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 20 nm
... Oberflächensensitive Mikroskopie 20 nm Laterale Auflösung Lokale Spektroskopie k-Space-Bildgebung Einfach zu bedienen Kompatibel mit MULTIPROBE UHV-Systemen Ein FOCUS-Produkt Die Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) ist eine extrem ...
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 3 nm
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