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Elektronenmikroskope

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Hitachi High-Technologies Europe
Rasterelektronenmikroskop (SEM), Tischgerät  TM3000 Hitachi High-Technologies Europe
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Die folgendes Erzeugung TM3000 Tischplattemikroskopbauten auf dem Erfolg seines Vorgängers, dem TM-1000 und den Angeboten verbesserten erheblich Leistung, einschließlich lineare Wiedergabe bis bis 30,000x und zur besseren Entschließung, in einer Maßeinheit, die 20% weniger Raum besetzt und einen energiesparenden Entwurf hat. Das neue TM3000 ist ein Druck-Rasterelektronenmikroskop der Tischplatte variables, ...

Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für biomedizinische Anwendungen  120 kV | HT7700 Hitachi High-Technologies Europe
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Das neue HT7700 120 KV-GetriebeElektronenmikroskop ist für biomedizinische Forschung und R&D für die pharmazeutischen, vorgerückten Materialien und Nanotechnologie bestimmt. Das revolutionäre HT7700 wird für hochauflösende Darstellung an den niedrigen Elektrondosen optimiert und wird eingestellt, um das Leben für Mikroskopierer mit Integration 100% aller Funktionen in die grafische Benutzerschnittstelle ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  SU70 Hitachi High-Technologies Europe
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Wir sind stolz, unsere NEUE vielseitig begabte Lösung zu den analytischen Zwecken im Verbindung mit Ultra-Hoch-Entschließung und reichlichen Signal-Vorwählerfähigkeiten darzustellen.

Phenom-World
Rasterelektronenmikroskop (SEM) (3D, Ra, Rz)  3D, Ra, Rz Phenom-World
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Mit der Rekonstruktionanwendung der Rauheit-3D ist der Phenom in der Lage, dreidimensionale Bilder und submicrometer Rauheitmaße zu erzeugen.

Diese völlig automatisierte Anwendung für das PhenomRasterelektronenmikroskop hilft, Darstellungresultate mitzuteilen und extrahiert und macht Daten normalerweise versteckt innerhalb einer Probe sichtbar.

3D
Darstellung 3D hilft, Beispieleigenschaften ...

Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Faseranalyse  0.04 - 100 nm | Fibermetric Phenom-World
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Bessere, schnellere Faser-Analyse

Jetzt unmittelbare Beobachtung und Maß des Mikros und
nano Fasern ist schneller, besser und leicht als überhaupt vor, mit
die verbesserte Fibermetric Anwendung.

Im Verbindung mit dem Phenom™ Erlaubt ProtischplattenG2 Rasterelektronenmikroskop, die Fibermetric Anwendung Ihnen, genaue Größeninformationen aus den Mikro- und nano Faserproben ...

Rasterelektronenmikroskop (SEM)  20 - 17 000X | G2 pure Phenom-World
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Das reine Phenom G2 ist ein ideales Werkzeug für das Bilden des überganges vom Arbeiten mit einem hellen Mikroskop zum Laufen lassen eines Elektronenmikroskops. Das reine Phenom G2 wird mit den grundlegenden Bestandteilen für Sitzung Belichtung Notwendigkeiten ausgerüstet.
Das reine Phenom G2 liefert hochwertige Bilder, beim Verwenden der grundlegenden Funktionen und bietet die schnellste ...

Carl Zeiss MicroImaging
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Materialanalyse Carl Zeiss MicroImaging
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Korrelative Mikroskopie

“ Doppelventilkegel u. Find” ist eine korrelative Schnittstelle für Licht und Elektronenmikroskope und liefert eine direkte Weise, die Vorteile der Lichtmikroskopie mit den umfangreichen Funktionalitäten der Vorderkantescannenelektronenmikroskope, z.B. Energie Dispersionsröntgenstrahlspektroskopie zu kombinieren.


Die Schlüsselelemente ...

Carl Zeiss Nano Technology Systems
Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  MERLIN Carl Zeiss Nano Technology Systems
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MERLIN™
Analytische Energie für die Vor-Nanometer Welt

- Nano Analytics
- Gesamtinformationen
- Mühelosigkeit des Gebrauches
- Zukunft zugesichert

MERLIN™ - Analyse und hohe Entschließung in einem
Das MERLIN FE-SEM überwindt den Konflikt zwischen Bildentschließung und analytischer Fähigkeit. Der Kern von MERLIN ist die erhöhte Spalte der ZWILLINGE ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit variablem Druck (VP FE-SEM)  ΣIGMA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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SIGMA - vorgerückte analytische Mikroskopie - jetzt vorhanden mit VP Technologie

Das SIGMA, GEMINI® Technologie kennzeichnend liefert hervorragende Darstellung und analytische Resultate von einem Feldemissionmikroskop.

Das SIGMA ist jetzt mit variabler Drucktechnologie (VP) für außergewöhnliche Darstellung und Analyse des nicht leitfähigen Exemplars vorhanden. Es ist mit einem Reichtum ...

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EsB (In-column)  ULTRA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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Das ULTRA FESEM, basiert auf dem SUPRA%uF0D4 FESEM enthält eine hohe Leistungsfähigkeit, ultra hohen Entschließung In-Spalte EsB-Detektor, der nano-einstufen kreative BSE-Darstellung ermöglicht. Der vorgewählte umgekehrte Detektor der neuentwickelten (EsB) Energie stellt die spätesten Entwicklungen des berühmten GEMINI®technology dar. Enthält ULTRA den GEMINI® In-Objektiv Se-Detektor für klare topographische ...

Cordouan Technologies
Transmissionselektronenmikroskop (TEM)  LVEM 5 Cordouan Technologies
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LVEM 5 ist ein Elektronenmikroskop im Getriebe, das hohe Entschließung des Bildes und die Kompaktheit eines optischen Mikroskops kombiniert. Es besteht aus 4 Elementen (Mikroskop, elektronische Maßeinheit, Vakuumpumpe und PC-Schnittstelle). Es bringt in 20 Minuten an und aller wiegt weniger als 60 Kilogramm. Dieses einzigartige TEM erfordert keine Dunkelkammer, Abkühlen oder teure jährliche Wartung. ...

OMICRON
Elektronenmikroskop mit Lichtemission OMICRON
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Es kennzeichnet ein flexibles Eingangsobjektivsystem, das einen großen Akzeptanzwinkel von einem gut definierten Analysenbereich sammelt. Dieses darf einerseits extreme gute countrates von den großen Analysenbereichen und folglich die schnelle und der Zeit leistungsfähige Ansammlung von Spektralinformationen erzielen. Einerseits kann die Größe des Analysenbereichs durch eine Blendenöffnung auf below ...

Rasterelektronenmikroskop (SEM) OMICRON
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Die in-situkombination von STM, von SEM und von SAM für hohe strukturelle und chemische Analyse der Entschließung stellt ein überlegenes Forschungswerkzeug her. Atomentschließung STM wird ideal durch die Fähigkeiten der SEM zum Bild große Flächen ergägenzt, Hilfe, Interessengebiete zu identifizierenen und schließlich die exakte Positionierung der STM-Spitze zum gewünschten Punkt auf die Oberfläche ...

Obducat CamScan
Elektronenmikroskop mit Lichtemission Obducat CamScan
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Eich-masse Modelle MV2300
MV2300T/100 100mm x 100mm Stadium, hohes Vakuum
MV2300T/100LV 100mm x 100mm Stadium, hoch - niedriges Vakuum (300Pa)
MV2300T/150 100mm x 150mm Stadium, hohes Vakuum
MV2300T/150LV 100mm x 150mm Stadium, hoch - niedriges Vakuum (300Pa)

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  Apollo 300 Obducat CamScan

Apollo 300

Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.

Rasterelektronenmikroskop (SEM) Obducat CamScan
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CS3100

X u. y-Bewegung
100mm x 100mm

Kathoden-Wahlen
Wolfram

SEI Entschließung
<3.5nm @ 30kV

Beschleunigende Spannung
30kV

CS3200

X u. y-Bewegung
100mm x 100mm

Kathoden-Wahlen
Wolfram (Eich-mass)
LaB6 (Wahl)

SEI Entschließung
<3.5nm @ 30kV (W)
<2.5nm @ 30kV (LaB6)

Beschleunigende ...

Jeol
Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-6701F Jeol
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Das JSM-6701F ist ein Feldemission-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) eine kalte Kathodenfeldemissiongewehr, ultra ein hohes Vakuum und verfeinerten Digitaltechniken für hohe Entschließungqualitätsdarstellung der Mikrostrukturen enthalten. Eine konische F.E.-Gewehr und ein Halb-inobjektiv objektives Objektiv kennzeichnend, ist das System zur hohen Entschließungdarstellung sowie Qualitätsrealzeitbildanzeige ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-7500F Jeol
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Das JSM-7500F ist eine analytische Feld-Emission SEM, die erhöhte Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Energieeffizienz kennzeichnet. Das JSM-7500F bietet die höchste Entschließung am niedrigsten KV aller möglicher SEM an, die vorhanden sind und erzielt eine Entschließung von 1.4 Nanometer bei 1 KV. Das JSM-7500F liefert Inobjektiv Leistung (1.0nm an 15kV) aber kann Proben bis zu 200mm in der Höhe ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-7001F Jeol
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Das JSM-7001F, thermische Feld-Emission SEM, ist die ideale Plattform für das Verlangen der analytischen Anwendungen sowie die, die hohe Entschließung und Benutzerfreundlichkeit erfordern. Das JSM-7001F hat ein großes, eine Mittellinie 5, völlig eucentric, motorisiertes, automatisiertes ein Exemplarstadium, ein Eintätigkeit Exemplaraustauschluftventil, kleinen Prüfspitzendurchmesser sogar an der großen ...

Angstrom Advanced
Rasterelektronenmikroskop (SEM)  AIS2300 Angstrom Advanced
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Angstrom-SEM ist ein zutreffendes Vielzweck-, Multibenutzerinstrument. Er übertrifft in der vielseitigen Verwendbarkeit und in der Flexibilität, indem er leicht Hochleistungs- in allen SEM-Modi u. kombiniert Partikel, die vom Betrieb in einer materiellen Forschungsmultibenutzerumwelt Gegen sind. Dieses Instrument kennzeichnet eine vollkommene Balance zwischen beständiger Konfiguration und einer ausgezeichneten ...

recherche-kwref www di De 2012-02-06-12