Bodenstehende Mikroskope

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Axia ChemiSEM

Räumliche Auflösung: 3, 8, 7 nm
Gewicht: 10 kg

... einzugehen. Unser Ziel war es, die Mikroskopie zu einer einfachen und angenehmen Erfahrung zu machen, bei der man nicht mit dem Mikroskop kämpfen muss, um qualitativ hochwertige Daten zu erhalten. Das Ergebnis ist das ...

Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU8700

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU7000

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
PROvido

... ständig neu fokussieren. Arbeiten Sie reibungslos und sicher während Ihres gesamten Eingriffs mit dem multidisziplinären Mikroskop PROvido, mit dem Sie einfach mehr sehen können.

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Leica Microsystems GmbH
digitales Mikroskop
digitales Mikroskop
ARveo

Unser digitales Augmented-Reality-Mikroskop ARveo bietet Ihnen entscheidende Vorteile, mit denen Sie die richtigen chirurgischen Entscheidungen treffen können: - Erweiterte digitale Bildgebung für präzise Echtzeit-Informationen - ...

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Leica Microsystems GmbH
medizinisches Mikroskop
medizinisches Mikroskop
M530 OHX

Das Leica M530 OHX unterstützt Sie, bei jedem Schritt des chirurgischen Eingriffs, das Wesentliche im Fokus zu behalten. Exklusive FusionOptics-Technologie, kombiniert mit einer anspruchsvollen Optik und TriFluoro – drei integrierten ...

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Leica Microsystems GmbH
AFM-SEM-Mikroskop
AFM-SEM-Mikroskop
FusionScope®

Vergrößerung: 25 unit - 200.000 unit
Gewicht: 330 kg
Länge: 835 mm

... Das FusionScope ist ein korrelatives AFM/SEM-Mikroskop, das von Grund auf so konzipiert wurde, dass Sie die Vorteile der Kombination dieser beiden Analysemethoden nahtlos nutzen können. Für die meisten Analysen ist es ...

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SEM5000

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,5, 0,8 nm
Gewicht: 950 kg

... CIQTEK SEM5000 ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...

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CIQTEK Co., Ltd.
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SEM5000X

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6 nm
Gewicht: 400 kg

... SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm@15 kV und 1,0 nm@1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der "SuperTunnel"-Technologie ...

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CIQTEK Co., Ltd.
Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
DB500

Räumliche Auflösung: 3, 1,2 nm

CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Technologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivdesign, niedriger ...

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CIQTEK Co., Ltd.
TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
JEM-ARM300F2

Gewicht: 100 kg

Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht ...

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Jeol
digitales Mikroskop
digitales Mikroskop
INSPECT400

Vergrößerung: 10, 4, 2 unit

Produktbeschreibungen Merkmale: 1. Kompaktes Universaltool-makermikroskop, kann in Werkstätten und in andere kleine Plätze installiert werden 2. Digital-Mikrometer ermöglicht einfaches und genaues Messen 3. Exaktes Winkelmessen ...

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Leader Precision Instrument Co. Ltd
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