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Feldemissionsmikroskope, Röntgenmikroskope, Elektronenmikroskope

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  • Dreh- und Zentriertisch Z150 für aufrechte Mikroskope
    P. 1
    Dreh- und Zentriertisch Z150 für aufrechte Mikroskope Spezifikationen Durchmesser: 150 mm (ohne Nonien und Klemmschraube) Höhe Anschraubfläche bis Objektauflage: 14,5 mm Gewicht: 780 g Oberfläche:
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  • FIBEROPTIK, VERBINDER UND ASSEMBLIES
    P. 92
    70.C 22644172 Mikroskop 9801.80.A 22644165 Lampe für Mikroskop 9801.81.A 22646352 Bedienungsanleitung 52.23.0150.4 Jedes Ersatzteil und Werkzeug kann auch separat bestellt werden.
  • Hitachi High-Technologies Europe
    Rasterelektronenmikroskop (SEM), Tischgerät  TM3000 Hitachi High-Technologies Europe
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    Die folgendes Erzeugung TM3000 Tischplattemikroskopbauten auf dem Erfolg seines Vorgängers, dem TM-1000 und den Angeboten verbesserten erheblich Leistung, einschließlich lineare Wiedergabe bis bis 30,000x und zur besseren Entschließung, in einer Maßeinheit, die 20% weniger Raum besetzt und einen energiesparenden Entwurf hat. Das neue TM3000 ist ein Druck-Rasterelektronenmikroskop der Tischplatte variables, ...

    Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für biomedizinische Anwendungen  120 kV | HT7700 Hitachi High-Technologies Europe
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    Das neue HT7700 120 KV-GetriebeElektronenmikroskop ist für biomedizinische Forschung und R&D für die pharmazeutischen, vorgerückten Materialien und Nanotechnologie bestimmt. Das revolutionäre HT7700 wird für hochauflösende Darstellung an den niedrigen Elektrondosen optimiert und wird eingestellt, um das Leben für Mikroskopierer mit Integration 100% aller Funktionen in die grafische Benutzerschnittstelle ...

    Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  SU70 Hitachi High-Technologies Europe
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    Wir sind stolz, unsere NEUE vielseitig begabte Lösung zu den analytischen Zwecken im Verbindung mit Ultra-Hoch-Entschließung und reichlichen Signal-Vorwählerfähigkeiten darzustellen.

    Bruker Elemental
    Rasterkraftmikroskop (AFM)  Dimension FastScan™ Bruker Elemental

    The Dimension FastScan™ Atomic Force Microscope (AFM) delivers, for the first time, extreme imaging speed without loss of resolution, loss of force control, added complexity, or additional operating costs. Based upon the highly successful Dimension Icon® AFM architecture, the FastScan AFM is a tip-scanning system that provides measurements on both large and small size samples in air or fluids. Now, ...

    Atomic Force-Profilometer Bruker Elemental

    Dimension™ X automated atomic force microscope replaces costly, destructive cross-sectioning techniques, cutting etch measurement time from days to minutes, to help you increase yield without sacrificing quality.

    The Dimension X is engineered to provide unequaled throughput of 25 WPH (five sites) and provides in-line repeatable metrology for the most difficult to measure etch features.

    Rasterkraftmikroskop (AFM) Bruker Elemental
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    N8 ARGOS
    N8 ARGOSAFM/SPM die leichte Art

    Das N8 ARGOS ist ein Vertrag und in hohem Grade ein steifer Standplatz für das NANOS AFM/SPM System. Ausgerüstet mit einem ultra vertikalen Stadium der Präzision wird das Flughandbuch mit Nanometergenauigkeit genähert. Hoch entwickelte Algorithmen liefern eine glatte und leichte Prüfspitzenannäherung. Versehentliche Spitze zur Probe tritt innen ...

    Carl Zeiss MicroImaging
    Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Materialanalyse Carl Zeiss MicroImaging
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    Korrelative Mikroskopie

    “ Doppelventilkegel u. Find” ist eine korrelative Schnittstelle für Licht und Elektronenmikroskope und liefert eine direkte Weise, die Vorteile der Lichtmikroskopie mit den umfangreichen Funktionalitäten der Vorderkantescannenelektronenmikroskope, z.B. Energie Dispersionsröntgenstrahlspektroskopie zu kombinieren.


    Die Schlüsselelemente ...

    Jeol
    Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-6701F Jeol
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    Das JSM-6701F ist ein Feldemission-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) eine kalte Kathodenfeldemissiongewehr, ultra ein hohes Vakuum und verfeinerten Digitaltechniken für hohe Entschließungqualitätsdarstellung der Mikrostrukturen enthalten. Eine konische F.E.-Gewehr und ein Halb-inobjektiv objektives Objektiv kennzeichnend, ist das System zur hohen Entschließungdarstellung sowie Qualitätsrealzeitbildanzeige ...

    Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-7500F Jeol
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    Das JSM-7500F ist eine analytische Feld-Emission SEM, die erhöhte Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Energieeffizienz kennzeichnet. Das JSM-7500F bietet die höchste Entschließung am niedrigsten KV aller möglicher SEM an, die vorhanden sind und erzielt eine Entschließung von 1.4 Nanometer bei 1 KV. Das JSM-7500F liefert Inobjektiv Leistung (1.0nm an 15kV) aber kann Proben bis zu 200mm in der Höhe ...

    Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-7001F Jeol
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    Das JSM-7001F, thermische Feld-Emission SEM, ist die ideale Plattform für das Verlangen der analytischen Anwendungen sowie die, die hohe Entschließung und Benutzerfreundlichkeit erfordern. Das JSM-7001F hat ein großes, eine Mittellinie 5, völlig eucentric, motorisiertes, automatisiertes ein Exemplarstadium, ein Eintätigkeit Exemplaraustauschluftventil, kleinen Prüfspitzendurchmesser sogar an der großen ...

    Carl Zeiss Nano Technology Systems
    Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  MERLIN Carl Zeiss Nano Technology Systems
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    MERLIN™
    Analytische Energie für die Vor-Nanometer Welt

    - Nano Analytics
    - Gesamtinformationen
    - Mühelosigkeit des Gebrauches
    - Zukunft zugesichert

    MERLIN™ - Analyse und hohe Entschließung in einem
    Das MERLIN FE-SEM überwindt den Konflikt zwischen Bildentschließung und analytischer Fähigkeit. Der Kern von MERLIN ist die erhöhte Spalte der ZWILLINGE ...

    Fokussiertes Ionen Strahl System (FIB)  AURIGA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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    AURIGA®
    Informationen über Entschließung hinaus

    - Einzigartige Darstellung
    - Vorgerücktes Analytics
    - Exakte Verarbeitung
    - Zukunft zugesichert

    , arbeitend mit Ihrer Probe umfaßt mehr als gerade Darstellung der Oberfläche? Möchten Sie auch in dem chemischen Aufbau oder der Morphologie Ihrer Probe auskennen? Sind Sie Kuriositäten über eingehende Eigenschaften des ...

    Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit variablem Druck (VP FE-SEM)  ΣIGMA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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    SIGMA - vorgerückte analytische Mikroskopie - jetzt vorhanden mit VP Technologie

    Das SIGMA, GEMINI® Technologie kennzeichnend liefert hervorragende Darstellung und analytische Resultate von einem Feldemissionmikroskop.

    Das SIGMA ist jetzt mit variabler Drucktechnologie (VP) für außergewöhnliche Darstellung und Analyse des nicht leitfähigen Exemplars vorhanden. Es ist mit einem Reichtum ...

    Panasonic Factory Automation Company
    Atomic Force-Profilometer  max. 200 mm | UA3P series Panasonic Factory Automation Company

    The Panasonic UA3P profilometer series is designed to measure aspherical lenses & molds, semiconductor wafers, and any other precision component requiring nanometer level accuracy ranging up to 200mm x 200mm. Different machine models are available to meet your optical & high aspect ratio metrology needs.

    The UA3P-300, UA3P-4 and UA3P-5 all offer users the accuracy of AFM technology ...

    Atomic Force-Profilometer  UA3P-L Panasonic Factory Automation Company
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    Straßenoberflächenmessgerät Panasonic-UA3P-L

    Das eben eingeführte UA3P-L misst die vertikalen Wandoberflächen der Gegenstände und die Innenoberfläche der Mikronniveau Löcher. Die Anwendungen, die hohe Längenverhältnis-Metrologie (SCHADEN) erfordern, wie Kraftstoffeinspritzdüseöffnungen, Mikro--sortierten Zahnräder, und Halbleitereigenschaftsmuster können aller Nutzen von diesem Straßenoberflächenmessgerät.

    Das ...

    Navitar
    Fluoreszenz Lifetime Imaging Mikroskop Navitar
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    Navitar ist ein führender Versorger der Mikro- und makro Leuchtstoffdarstellungwerkzeuge, die für Fluoreszenzmikroskopieabfragung und -beobachtung entworfen sind. Navitar’ s-komplette optische Werkzeuge liefern feine Details der Organe, Gewebe und leben Zellen mit beispielloser Helligkeit, Entschließung und Präzision.

    Unsere Fluoreszenzmikroskopie-Darstellungsysteme sind flexibel ...

    Thermo Scientific - Scientific Instruments
    Raman-Mikroskop Thermo Scientific - Scientific Instruments
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    DXR Raman Mikroskop
    Das Thermo wissenschaftliche DXR Raman Mikroskop versieht Punkt-und Eintragfaden Raman-Mikroskopie mit außergewöhnlicher Empfindlichkeit und räumliche Entschließung für Arbeitsanwendungen.
    Das Thermo wissenschaftliche DXR Raman Mikroskop definiert vollständig das Raman-Mikroskop neu, damit es die Nachfragen der beschäftigten Labors befriedigt. Ohne Leistung zu opfern errichtet, ...

    Röntgenstrahlen-Mikroanalysesystem  NORAN System 7 Thermo Scientific - Scientific Instruments
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    X-RayMicroanalysis: Hoher Durchsatz, einwandfreie Genauigkeit und keine Kompromisse

    Hochauflösende EDS-Röntgenstrahldetektor- und Röntgenstrahlmikroanalysesysteme kennzeichnend, entwarf für Hochdurchsatz, Benutzerfreundlichkeit, und komplette Antworten, sowie WDS und EBSD Systeme, Thermo Fisher-wissenschaftliche Angebote schließen Lösungen für chemische Analyse in der Elektronenmikroskopie ...

    Park Systems Inc.
    Rasterkraftmikroskop (AFM)  XE-70 Park Systems Inc.
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    Erschwinglich, Forschung-Grad Flughandbuch mit der flexiblen Beispielbehandlung

    Eine ökonomische Verlängerung des XE-100, das XE-70 ist Park-Systeme' neue Flughandbuch-Lösung für bewusste Kunden des Etats. Einen kompakten mechanischen Entwurf habend, setzt das XE-70 die erfinderische Technologie der XE-Reihen fort, die Sätze es abgesehen von herkömmlichem Flughandbuch. Das XE-70 teilt die ...

    Rasterkraftmikroskop (AFM)  NX10 Park Systems Inc.

    Data accuracy is of paramount importance to nanotechnology researchers as the credibility of their research depends upon accurate results. The NX10, the world’s most accurate AFM, is the flagship AFM of Park Systems’ new product line. The NX10 brings unparalleled imaging accuracy, scan speeds, and tip life to the next generation of researchers, all at an affordable price. The NX10 is the world’s premium ...

    Rasterkraftmikroskop (AFM) für Metrologie-Anwendungen Park Systems Inc.
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    Das XE-200 ist ein Flughandbuch mit der erhöhten Kapazität, die 200 Millimeter Oblateuntersuchung stützt. Zusätzlich zum exakten Scan stellte die Leistung vom zutreffenden berührungsfreien Modus, die Benutzer der Angebote XE-200 ein verschlüsseltes X-Ystadium, das über die gesamten 200 Millimeter x 200 Millimeter Beispielbereich reist, eine vergrößerte X-Yscan-Strecke 200 &#956 zur Verfügung; ...

    Phenom-World
    Rasterelektronenmikroskop (SEM) (3D, Ra, Rz)  3D, Ra, Rz Phenom-World
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    Mit der Rekonstruktionanwendung der Rauheit-3D ist der Phenom in der Lage, dreidimensionale Bilder und submicrometer Rauheitmaße zu erzeugen.

    Diese völlig automatisierte Anwendung für das PhenomRasterelektronenmikroskop hilft, Darstellungresultate mitzuteilen und extrahiert und macht Daten normalerweise versteckt innerhalb einer Probe sichtbar.

    3D
    Darstellung 3D hilft, Beispieleigenschaften ...

    Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Faseranalyse  0.04 - 100 nm | Fibermetric Phenom-World
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    Bessere, schnellere Faser-Analyse

    Jetzt unmittelbare Beobachtung und Maß des Mikros und
    nano Fasern ist schneller, besser und leicht als überhaupt vor, mit
    die verbesserte Fibermetric Anwendung.

    Im Verbindung mit dem Phenom™ Erlaubt ProtischplattenG2 Rasterelektronenmikroskop, die Fibermetric Anwendung Ihnen, genaue Größeninformationen aus den Mikro- und nano Faserproben ...

    Rasterelektronenmikroskop (SEM)  20 - 17 000X | G2 pure Phenom-World
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    Das reine Phenom G2 ist ein ideales Werkzeug für das Bilden des überganges vom Arbeiten mit einem hellen Mikroskop zum Laufen lassen eines Elektronenmikroskops. Das reine Phenom G2 wird mit den grundlegenden Bestandteilen für Sitzung Belichtung Notwendigkeiten ausgerüstet.
    Das reine Phenom G2 liefert hochwertige Bilder, beim Verwenden der grundlegenden Funktionen und bietet die schnellste ...

    HORIBA Jobin Yvon
    Raman-Mikroskop  XploRA™ HORIBA Jobin Yvon
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    Das XploRA ist ein neues Konzept in der Raman-Mikroskopie und holt Raman chemische Kennzeichnung direkt zu Ihrem Mikroskop. Das XploRA kann zu den aufrechten und umgekehrten Mikroskopen verbunden werden und Analyse aller Beispielarten erlauben und von den Halbleitern und von den Nanomaterialien, durch bis zu biologischen Zellen und Geweben reichen.

    Das System stellt die hergestellte Leistung ...

    Raman-Mikroskop  LabRAM HR HORIBA Jobin Yvon
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    Die LabRAM Stunde Systeme liefern hohe spektralanalytische Entschließung und eine einzigartige Wellenlängenbereichfähigkeit, die große Flexibilität und Hochleistungs- anbietet. Sie sind für Standardraman-Analyse, photoluminescence (PL) am meisten benutzt, Spitze erhöhten zerstreuenden Raman (TERS) und andere hybride Methoden.

    Röntgenmikroskop  XGT-7000 HORIBA Jobin Yvon
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    Das XGT-7000 vertritt ein vollständig neues Erzeugung des XRF Mikroskops und führt die Weise zu einer neuen Ära der Wissenschaft. Es bietet eine nahtlose Fusion den Funktionen zwischen optischer Beobachtung und der elementaren Analyse an und revolutioniert die Welt der Mikroanalyse und der Festlegung, die als Routinewerkzeug für die Forschung und den analytischen Wissenschaftler Mikrosind.

    Einzigartige ...

    recherche-cat www di De 2012-02-07-13