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Elektronenspektrometer: AES, XPS, EELS...

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Jeol
Auger-Elektronenspektrometer (AES)  JAMP-9500F Jeol
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Das JAMP-9500F bietet die höchste räumliche Entschließung an, die in einer Mikrosonde vorhanden ist: (Min.-Prüfspitzendurchmesser von 3nm für SEI; 8nm für Schneckenwellenanalyse). Ein Niedrigabweichung Kondensatorobjektiv einsetzend (in, welchem ein elektrostatisches Feld und ein Magnetfeld überlagert sind), kombiniert mit einer patentierten "Inobjektiv" Schottky-Feldemissiongewehr, erhält das JAMP-9500F ...

Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA)  JXA-8230 Jeol

The JXA-8230, the fifth generation of SuperProbes, is a high resolution, highly stable WD/ED Combined Electron Probe Microanalyzer (EPMA) with a new PC-based operating environment for easy data acquisition and analysis.

The combination of up to 5 wavelength dispersive X-ray spectrometers (WDS) and a newly developed energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) analyzer featuring spectral imaging ...

Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA)  JXA-8530F Jeol

A PC Controlled, WD/ED Combined System Opens Doors to New Ultra Micro Analysis

JEOL revolutionized surface analysis with an EPMA featuring a field emission (FE) electron gun, and now is proud to present a new upgraded FE-EPMA. The JXA-8530F operates on PC Windows for data acquisition and analysis while maintaining the powerful hardware of the JXA-8500F including the FE electron gun, EOS, ...

Thermo Scientific - Scientific Instruments
Auger-Elektronenspektrometer (AES) Thermo Scientific - Scientific Instruments
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MICROLAB 350 - Schneckenwellen-Elektron-Spektrometer

MICROLAB 350 ist ein leistungsstarkes, scannenschneckenwellen-Elektron-Spektrometer (AES) mit hoher Empfindlichkeit und Hochenergie-Entschließung. Sem-Entschließung <7 Nanometer und Scannen bohrt das Diagramm (SAM) der Entschließung <12 Nanometer.


Produkt-Detail

Leistungsstarkes Scannen Schneckenwellenelektronspektrometer ...

Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer (XPS) Thermo Scientific - Scientific Instruments
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Theta-Prüfspitze - Spektrometer des Hochleistungs--ARXPS



Thermo Theta-Prüfspitze kombiniert vorgerückte Monochromator- und Objektiv- und Detektortechnologie, um schnelle, exakte Analyse zur Verfügung zu stellen. Mit der revolutionären ARXPS Fähigkeit, zum der eckigen Daten gleichzeitig bereitzustellen, ohne die Probe zu kippen




Produkt-Detail ...

OMICRON
Auger-Elektronenspektrometer (AES) OMICRON
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- Engagierter Objektiventwurf für Kombination mit UHV Zwilling-Spalte
- Energieentschließung 0.01% bis 2%
- MCD 7 Kanaldetektor


Hemisphärisches Elektronspektrometer für Schneckenwellen-Elektron-Spektroskopie (AES) und Scannen-Schneckenwellen-Mikroskopie (SAM)anwendungen. Das Instrument ist für Gebrauch zusammen mit der Entschließung-Elektron Spalte der UHV Zwillinge ...

Elektronen-Spektrumanalysator OMICRON
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Die CMA 100 Mähdrescher eine Kompaktbauweise und ein Hochleistungs-. Es bringt zu einem Standard-Flansch CF DER Nanowatt-100 (" Od 6) an und kennzeichnet eine einzigartige integrale Einfahrvorrichtung für einfachen Zugang zur Probe. Entsprechung sowie den Impuls, der Modusabfragung zählt, ist möglich und versieht optimale Signale sogar mit empfindlichen Proben.

LEED-Spektrometer, Beugung niederenergetischer Elektronen OMICRON
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Energie von < eV 5 bis 3.5 Kev strahlen
LaB6 oder thoriated w-Heizfaden
Ausgezeichnete AES Leistung

Die SPECTALEED Optik ist ein Präzisionsinstrument, das > 250 Å Übergangsbreite bereitstellen (bei eV 100) und besonders helle LEED Muster. Der neue kompakte Spg.Versorgungsteil NG LEED kombiniert manuellen LEED Betrieb und computergesteuerte Schneckenwellenelektronspektroskopie ...

CAMECA
Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA)  SXFive CAMECA
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SX 100

Elektron-Prüfspitzen-Mikroanalysator für Materialien u. Geosciences

Vorgerückte Elektronoptik, Entwicklungsspektrometerentwurf und engagierte Software kombinierend, führt das CAMECA SXFive qualitative und quantitative chemische Mikroanalyse der hohen Genauigkeit in der Geochemie-, Mineralogie-, Chronologie-, körperlicher und Kernmetallurgie, Materialkunden durch (einschließlich ...

Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA)  Shielded SX CAMECA
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Abgeschirmte Elektron-Prüfspitze MicroAnalyzer für radioaktive Proben

Das abgeschirmte SX ist spezifisch entwickelt worden, um die radioaktiven Proben (z.B. Kernbrennstoffe) zu behandeln und zu analysieren Gammastrahlungen bis 3 Curie an 0.75MeV ausstrahlend. Gegründet auf der SXFive und SXFiveFE Architektur, wird das Shieldede SX weiter mit abgeschirmten WDS Spektrometern und einem abgeschirmten ...

Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA)  SXFiveFE CAMECA
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Feld-Emission-Elektron-Prüfspitzen-Mikroanalysator für quantitative Analyse und Röntgenstrahl, der an der höchstmöglichen räumlichen Entschließung abbildet

Das SXFiveFE ist Erzeugungs-Elektronprüfspitze microanalyzer CAMECAS fünften. Es bringt alle besten Eigenschaften der vorhergehenden Modelle EPMA CAMECAS zusammen und enthält einige hervorragende Eigenschaften, einschließlich die einzigartige ...

Physical Electronics Inc.
Auger-Elektronenspektrometer (AES)  PHI 700Xi Physical Electronics Inc.
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PHI 700 Schneckenwelle Nanoprobe
Überblick

Die PHI 700 scannenschneckenwelle Nanoprobe liefert Spektralanalyse der Hochleistungs- Schneckenwelle (AES), Schneckenwellendarstellung und spritzt das Tiefenprofilieren der komplizierten Materialien einschließlich: nanomaterials, Katalysatoren, Metalle und elektronische Geräte.

Die Emission-Elektronquelle des Feldes 700's versieht einen ...

Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer (XPS)  PHI Quantera II Physical Electronics Inc.
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Überblick

Das Quantera, Scannen-Röntgenstrahl-Mikrosonde Erzeugung des PHIS zweiter liefert die Empfindlichkeit und bearbeitet erforderlich, um XPS Oberflächenanalyse an einer ausgedehnteren Strecke gegenwärtigen anzuwenden und zukünftige Produktentwicklungs- und -ausfalanalyse braucht. Hochleistungs- Mikro-bereich Spektroskopie, die profilierende XPS Tiefe, automatisierte Isolierungsanalyse, ...

Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer (XPS)  PHI VersaProbe Physical Electronics Inc.
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Das PHI 5000 VersaProbe ist ein Multitechnik Oberflächen-Analyseninstrument, das in hohem Grade auf Scannenröntgenstrahl-Mikrosondentechnologie des PHIS - erfolgreicher basiert. Diese Technologie liefert Hochleistungs- XPS Mikro-bereich Spektroskopie, chemische Darstellung, und Sekundärelektrondarstellung mit einem Raster scannte 10 µm Durchmesser-Röntgenstrahllichtstrahl.

Erfinderische und ...

LK Technologies
Auger-Elektronenspektrometer (AES) LK Technologies
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System, das ELS3000 mit CVD-Diamantwachstumraum und anderer Analyse einschließlich LEED/Auger, QMS kombiniert.

EELS-Spektrometer  max. 3 meV || Model LK2000 LK Technologies
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Das LK2000 hat weit verbreiteten Gebrauch in den industriellen und akademischen Labors weltweit gesehen. Es ist erfolgreich an einer verschiedenen Strecke der Probleme, einschließlich Kohlenwasserstoffchemisorption (Katalyse) auf Metallen, Analyse der Silikonoblate-Reinigungstechniken, Kennzeichnung der Plastik-Folien, der Studien der Folien C60 und unzählbarer anderer angewendet worden.

EELS-Spektrometer  Model EA5000MCA LK Technologies
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Hauptmerkmale und Leistungs-Vorteile

* Zylinderförmiger Analysator des breiten Abstandes mit fast idealer Fransefeldkorrektur
* Mehrkanalplatte für simultane Datenerfassung über 800 Kanälen
* Leistungsfähigkeit der Abfragung 100-150x über herkömmlichen Instrumenten
* Die Spektren abschließen, die in einigen Sekunden zu einigen Minuten erworben werden
* ...

RBD Instruments Inc
Elektronenkanone für Oberflächenanalyse-Anwendung  20 µA | NTI 1401 RBD Instruments Inc
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Die Ionengewehr 1401 des Modell-NTI ist- für Gebrauch in den Oberflächenchemieexperimenten wie Beispielvorbereitung und -tiefe ideal, die mit Schneckenwelle und XPS profilieren. Sie kann mit den meisten Edelgasen verwendet werden.

Mit einem Lichtstrahlstrom von µA 20 in einen 0.4mm Durchmesserpunkt in einem Funktionsabstand von 25 Millimeter, kann die Gewehr 10mal liefern die spezifische ...

Elektronenkanone für Oberflächenanalyse-Anwendung  2 - 20 µA | NTI 1407 RBD Instruments Inc
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Die Ionengewehr 1407 des Modell-NTI kennzeichnet Duoplasmatron Leistung in einer ElektronStoßionisations-Ionengewehr. Mittels der veränderbaren Blendenöffnungen in der Optikspalte, können eine große Auswahl der Lichtstrahlstrom und Punktgrößen erhalten werden. An einer Lichtstrahlenergie von 5 Kev, Strom strahlen kann von 2 MA in einen 20 um-Durchmesserpunkt auf 20 MA in einen 100 um-Durchmesserpunkt ...

Elektronenkanone für Oberflächenanalyse-Anwendung  2 kV | IG2 RBD Instruments Inc
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PHI kompatibel: Die RBD 04-165 Ionenquelle ist- mit den Gewehren des PHIS 04-161 und 04-162 Ionenauswechselbar. Die RBD 32-165 Ionenquellsteuerung ist- mit der Steuerung des PHIS 20-045 auswechselbar. Infolgedessen arbeitet das RBD Modell 04-165 mit dem PHI 20-045, und die Gewehren des PHIS 04-161 und 04-162 Ionenarbeiten mit dem RBD Modell 32-165.

Theorie: Das vorbildliche 04-165 füllen ...

VG Scienta
Elektronen-Spektrumanalysator VG Scienta
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Allgemeine Beschreibung:

Mit Eigenschaften als 0.1 Millimeter-Eingangsschlitz und 1 eV Energie die Ansprüche des Spektrometers führen R4000WAL-0.1 die beste Energieentschließung auf dem Markt. Dieser Weitwinkelannahmeanalysator ist für XPS, UPS-und ARPES Studien mit Objektivtabellen für den Überblick und hohe Entschließung vollausgebaut, die eckig sind und Getriebemodi. Kinetische Energie ...

Winkelaufgelöster Photoemissions-Spektrometer (ARPES)  ARTOF 10k VG Scienta
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er ARTOF 10k ist ein neuer ultra hoher Entschließungelektronenergieanalysator für das schnelle 2D Banddiagramm. Der Instrumententwurf kombiniert den Flugschlauch einer Zeit des Flugspektrometers mit Elektronoptik Verstell-Scienta und wird ein Spektrometer für eckige entschlossene Zeit der Flug (ARTOF)maße. Er erfordert eine pulsierte Photonquelle mit einer maximalen Wiederholungsrate von 1.5 MHZ. ...

OCI Vacuum Microengineering
Auger-Elektronenspektrometer (AES)  50 pA | Models BDL800IR-MCP OCI Vacuum Microengineering
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AES MIT GEWINN-ENERGIE DER MICROCHANNEL-PLATTEN

Modelle BDL800IR-MCP und BDL600IR-MCP

Eigenschaften:

Hohe Bild-Empfindlichkeit am Primärlichtstrahl-Strom - 50pA
Aussondern/verdoppeln der 75 Millimetermicrochannel-Platten
Minielektron-Gewehr mit der doppelten Fokussierung
AES Lichtstrahl-Strom 50 am µA - 10µA
Integrale Bewegung u. Blendenverschluß
Verwendbar ...

Auger-Elektronenspektrometer (AES)  Model BDL600 OCI Vacuum Microengineering
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Fixiertes Silikon beschichtet mit leitender Schicht des Indiumzinn Oxids und Phosphor P31 (ZnS: AG: Cu-grün, Wellenlänge 525nm)
BDL600IR 90º Winkel der Annahme von der Probe in einem Abstand von 50 Millimeter
BDL800IR 100º Winkel der Annahme von der Probe in einem Abstand von 75 Millimeter
Konzentrischer Zusammenbau des Bremsfeld-Analysators der hemisphärischen Rasterfelder
BDL600IR ...

Controller für LEED-Spektrometer, Beugung niederenergetischer Elektronen OCI Vacuum Microengineering
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Modell LPS075-D

Kompakter Steuerpult für die LEED Anwendung kompatibel
mit BDL800/600/450 und der meisten Handels-LEED Optik

recherche-cat www di De 2012-02-07-13